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ASTM D 5467/D 5467M-1997 使用多层组合梁的单向聚合母体复合材料压缩特性的标准试验方法

作者:标准资料网 时间:2024-05-09 14:54:14  浏览:9663   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:StandardTestMethodforCompressivePropertiesofUnidirectionalPolymerMatrixCompositesUsingaSandwichBeam
【原文标准名称】:使用多层组合梁的单向聚合母体复合材料压缩特性的标准试验方法
【标准号】:ASTMD5467/D5467M-1997
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:1997
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:剪切强度;聚合材料;增强塑料;压缩试验;高聚物;试验;试验方法
【英文主题词】:reinforcedplastics;compressiontesting;shearstrength;polymers;polymericmaterials;tests;testmethods
【摘要】:
【中国标准分类号】:G33
【国际标准分类号】:83_120
【页数】:9P;A4
【正文语种】:英语


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【英文标准名称】:SpecificationforChlorinatedPoly(VinylChloride)(CPVC)PlasticPipeFittings,Schedule80
【原文标准名称】:氯化聚氯乙烯(CPVC)塑料管配件规范.表80
【标准号】:ANSI/ASTMF439-2005
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:2005
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国国家标准学会(US-ANSI)
【起草单位】:ANSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:聚氯乙烯;管道配件
【英文主题词】:Construction;Fittings;Pipefittings;Plastics;Plasticsproducts;Polyvinylchloride
【摘要】:
【中国标准分类号】:G33
【国际标准分类号】:23_040_45
【页数】:
【正文语种】:英语


基本信息
标准名称:硅和外延片表面Na、Al、K和Fe的二次离子质谱检测方法
英文名称:Test method for measuring surface sodium,aluminum,potassium,and iron on silicon and epi substrates by secondary ion mass spectrometry
中标分类: 冶金 >> 半金属与半导体材料 >> 半金属与半导体材料综合
ICS分类: 电气工程 >> 半导体材料
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
发布日期:2009-10-30
实施日期:2010-06-01
首发日期:2009-10-30
作废日期:
主管部门:国家标准化管理委员会
提出单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会
归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会
起草单位:信息产业部专用材料质量监督检验中心、中国电子科技集团公司第四十六研究所
起草人:何友琴、马农农、丁丽
出版社:中国标准出版社
出版日期:2010-06-01
页数:12页
计划单号:20070859-T-469
适用范围

本标准规定了硅和外延片表面Na、Al、K 和Fe的二次离子质谱检测方法。本标准适用于用二次离子质谱法(SIMS)检测镜面抛光单晶硅片和外延片表面的Na、Al、K 和Fe每种金属总量。本标准测试的是每种金属的总量,因此该方法与各金属的化学和电学特性无关。
本标准适用于所有掺杂种类和掺杂浓度的硅片。
本标准特别适用于位于晶片表面约5nm 深度内的表面金属沾污的测试。
本标准适用于面密度范围在(109~1014)atoms/cm2 的Na、Al、K 和Fe的测试。本方法的检测限取决于空白值或计数率极限,因仪器的不同而不同。

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所属分类: 冶金 半金属与半导体材料 半金属与半导体材料综合 电气工程 半导体材料

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